评价高频贴片电容器的一个重要功能指标是质量要素Q，或者是与其有关的等效串联电阻（ESR）。

　　理论上，一个“完满”的电容器应当表现為ESR為零欧姆、纯容抗性的无阻抗元件。不论何种频率，电流通过电容时都会比电压提早正巧90度的相位。

　　实际上，电容是不完满的，会或多或少存在必定值的ESR。一个特定电容的ESR随著频率的改变而改变，并且是有等式联系的。这是由於ESR的来历是导电电极构造的特性和绝缘介质的构造特性。為了模型化剖析，把ESR当成单个的串联寄生元。曩昔，所有的电容参数都是在1MHz的标準频率下测得，但当今是一个更高频的世界，1MHz的条件是远远不够的。一个功能优秀的高频电容给出的典型参数值应当為：200MHz ，ESR＝0.04Ω；900MHz， ESR＝0.10Ω；2000MHz，ESR＝0.13Ω。

　　贴片电容Q值是一个无量纲数，数值上等於电容的电抗除以寄生电阻（ESR）。Q值随频率改变而有很大的改变，这是由於电抗和电阻都随著频率而变。频率或者容量的改变会使电抗有著十分大的改变，因而Q值也会跟著发作很大的改变。从公式一和二上能够表现出来：

　　公式一：|Z| = 1 / ( 2πf C)其间，|Z|為电抗的绝对值，单位Ω；f為频率，单位Hz；C為容量，单位元F。

　　公式二：Q = |Z| / ESR其间，Q代表“质量要素”，无量纲；|Z|為电抗的绝对值，单位Ω；ESR為等效串联电阻，单位Ω。

　　用从向量网路剖析器收集而得的S参数去推导ESR是不可信的。首要原因是这个材料的精度受限於网路剖析器在50Ω体系中的精度（典型的± 0.05 dB丈量精度在电容低到±0.01 dB低损耗区是精度缺乏的）。相同，用LCR外表去丈量高Q器件的Q和ESR也是不可信的。这是由於当元件的Q 值十分高时，LCR 外表不能正确地分辨出十分小的电阻（R）和十分大的电抗（Z）。因而，高Q电容器的ESR和Q的丈量办法，通常使用作為职业标準的谐振线路测验法。

　　这种测验办法作為在射频RF上丈量Q和ESR 的职业标準而长期存在。因為该办法依靠於信号发作器的频率准确度（该频率能够十分准确的丈量），所以该材料的採样办法是十分准确的。现代的电容ESR十分之小，以至於这个丈量办法的精度也只能到达接近±10%。但不论如何，这仍然是当前最准确的在射频RF方面有效丈量Q和ESR的办法。

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